|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 552 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of back gate biases on hot carrier effects in multiple gate junctionless transistors |
| Auteur: |
Lee, Seung Min Jang, Hyun Jun Park, Jong Tae |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 552 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |