|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 544 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Identification of the physical signatures of CDM induced latent defects into a DC–DC converter using low frequency noise measurements |
| Auteur: |
Gao, Y. Guitard, N. Salamero, C. Bafleur, M. Bary, L. Escotte, L. Gueulle, P. Lescouzeres, L. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 544 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |