|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 533 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot-carrier reliability of 20V MOS transistors in 0.13 μm CMOS technology |
| Auteur: |
Rey-Tauriac, Y. Badoc, J. Reynard, B. Bianchi, R.A. Lachenal, D. Bravaix, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 45 (2005) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 533 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |