Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 44 van 1093 gevonden artikelen
 
 
  A low-cost built-in error correction circuit design for STT-MRAM reliability improvement
 
 
Titel: A low-cost built-in error correction circuit design for STT-MRAM reliability improvement
Auteur: Kang, Wang
Zhao, WeiSheng
Wang, Zhaohao
Zhang, Yue
Klein, Jacques-Olivier
Zhang, Youguang
Chappert, Claude
Ravelosona, Dafiné
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 6 p.
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 44 van 1093 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland