Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 40 van 1093 gevonden artikelen
 
 
  A 3000 hours DC Life Test on AlGaN/GaN HEMT for RF and microwave applications
 
 
Titel: A 3000 hours DC Life Test on AlGaN/GaN HEMT for RF and microwave applications
Auteur: Sozza, A.
Dua, C.
Morvan, E.
Grimber, B.
Delage, S.L.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 45 (2005) nr. 9-11 pagina's 5 p.
Jaar: 2005
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 40 van 1093 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland