|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 356 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical aging behavioral modeling for reliability analyses of ionizing dose effects on an n-MOS simple current mirror |
| Auteur: |
Bestory, C. Marc, F. Duzellier, S. Levi, H. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 49 (2009) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 356 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |