|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 322 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Dynamic simulation of migration induced failure mechanism in integrated circuit interconnects |
| Auteur: |
Moujbani, Aymen Kludt, Jörg Weide-Zaage, Kirsten Ackermann, Markus Hein, Verena Meinshausen, Lutz |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 322 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |