|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 266 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation induced by 2-MeV alpha particles on AlGaN/GaN high electron mobility transistors |
| Auteur: |
Danesin, Francesca Zanon, F. Gerardin, S. Rampazzo, F. Meneghesso, G. Zanoni, E. Paccagnella, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 266 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |