|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
A dual-beam Michelson interferometer for investigation of trigger dynamics in ESD protection devices under very fast TLP stress |
| Auteur: |
Dubec, V. Bychikhin, S. Blaho, M. Pogany, D. Gornik, E. Willemen, J. Qu, N. Wilkening, W. Zullino, L. Andreini, A. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 9-11 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |