|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 200 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of thin and ultra-thin SiO2 films and SiO2/Si interfaces with combined conducting and topographic atomic force microscopy |
| Auteur: |
Frammelsberger, Werner Benstetter, Guenther Schweinboeck, Thomas Stamp, Richard J Kiely, Janice |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 9-11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 200 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |