|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 1093 gevonden artikelen
| Titel: |
Active ESD protection circuit design against charged-device-model ESD event in CMOS integrated circuits |
| Auteur: |
Chen, Shih-Hung Ker, Ming-Dou |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 9-11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 1093 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |