|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 551 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
Wire width dependence of hot carrier degradation in silicon nanowire gate-all-around MOSFETs |
| Auteur: |
Choi, Jin Hyung Park, Jong Tae |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 551 van 551 gevonden artikelen
| << vorige |