|
Window for better reliability of nitride heterostructure field effect transistors |
|
|
|
Titel: |
Window for better reliability of nitride heterostructure field effect transistors |
Auteur: |
Matulionis, A. Liberis, J. Šermukšnis, E. Ardaravičius, L. Šimukovič, A. Kayis, C. Zhu, C.Y. Ferreyra, R. Avrutin, V. Özgür, Ü. Morkoç, H. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 52 (2012) nr. 9-10 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2012 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|