|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
As-grown donor-like traps in low-k dielectrics and their impact on intrinsic TDDB reliability |
| Auteur: |
Tang, B.J. Croes, K. Barbarin, Y. Wang, Y.Q. Degraeve, R. Li, Y. Toledano-Luque, M. Kauerauf, T. Bömmels, J. Tőkei, Zs. De Wolf, I. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |