|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 49 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
A reliable course of Scanning Capacitance Microscopy analysis applied for 2D-Dopant Profilings of Power MOSFET Devices |
| Auteur: |
Leicht, M. Fritzer, G. Basnar, B. Golka, S. Smoliner, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 9-10 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 49 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |