|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 485 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
System-level variation-aware aging simulator using a unified novel gate-delay model for bias temperature instability, hot carrier injection, and gate oxide breakdown |
| Auteur: |
Liu, Taizhi Chen, Chang-Chih Cha, Soonyoung Milor, Linda |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 485 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |