|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 460 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
Single-parameter model for the post-breakdown conduction characteristics of HoTiO x -based MIM capacitors |
| Auteur: |
Blasco, J. Castán, H. García, H. Dueñas, S. Suñé, J. Kemell, M. Kukli, K. Ritala, M. Leskelä, M. Miranda, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 460 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |