|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 300 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the effects of constant voltage stress on thin SiO2 layers using dynamic measurement protocols |
| Auteur: |
Chiquet, Philippe Masson, Pascal Laffont, Romain Micolau, Gilles Postel-Pellerin, Jérémy Lalande, Frédéric Bouteille, Bernard Ogier, Jean-Luc |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 9-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 300 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |