|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of neutron-induced single-event burnout in SiC power MOSFETs |
| Auteur: |
Shoji, Tomoyuki Nishida, Shuichi Hamada, Kimimori Tadano, Hiroshi |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 55 (2015) nr. 9-10 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 551 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |