|
Electro Optical Terahertz Pulse Reflectometry, a non destructive technique to localize defects on various type of package |
|
|
|
Titel: |
Electro Optical Terahertz Pulse Reflectometry, a non destructive technique to localize defects on various type of package |
Auteur: |
Reverdy, A. Marchetti, M. Fudoli, A. Pagani, A. Goubier, V. Cason, M. Alton, J. Igarashi, M. Gibbons, G. |
Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
Paginering: |
Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 6 p. |
Jaar: |
2014 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|