|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 551 gevonden artikelen
| Titel: |
Accelerated degradation data of SiC MOSFETs for lifetime and Remaining Useful Life assessment |
| Auteur: |
Santini, T. Morand, S. Fouladirad, M. Phung, L.V. Miller, F. Foucher, B. Grall, A. Allard, B. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 9-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 551 gevonden artikelen
| volgende >> |