|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 540 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal fatigue life estimation and delamination mechanics studies of multilayered MEMS structures |
| Auteur: |
Maligno, A.R. Whalley, D.C. Silberschmidt, V.V. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 52 (2012) nr. 8 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 540 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |