|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 521 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature dependence of the interface state distribution due to hot carrier effect in FinFET device |
| Auteur: |
Ma, Chenyue Wang, Hao Zhang, Chenfei Zhang, Xiufang He, Jin Zhang, Xing |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 8 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 521 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |