Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 362 van 572 gevonden artikelen
 
 
  Modular sensor chip design for package stress evaluation and reliability characterisation
 
 
Titel: Modular sensor chip design for package stress evaluation and reliability characterisation
Auteur: Trigg, A.D.
Chai, Tai Chong
Zhang, Xiaowu
Chen, Xian Tong
Wai, Leong Ching
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 52 (2012) nr. 8 pagina's 5 p.
Jaar: 2012
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 362 van 572 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland