|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 242 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of SiGe:C HBT intrinsic reliability using conventional and step stress methodologies |
| Auteur: |
Gaw, Craig Arnold, T. Martin, R. Zhang, L. Zupac, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 46 (2006) nr. 8 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 242 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |