|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 185 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Devices’ optimization against hot-carrier degradation in high voltage pLEDMOS transistor |
| Auteur: |
Wu, Hong Qian, Qinsong Liu, Siyang Sun, Weifeng Shi, Longxing |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 185 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |