|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 176 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Deteriorated radiation effects impact on the characteristics of MOS transistors with multi-finger configuration |
| Auteur: |
Wang, Jian Wang, Wenhua Huang, Ru Pei, Yunpeng Xue, Shoubin Wang, Xin’an Fan, Chunhui Wang, YangYuan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 50 (2010) nr. 8 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 176 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |