|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 167 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation properties of MOVPE-grown GaInP/GaAs HBTs under combined temperature and current stressing |
| Auteur: |
Würfl, Joachim Kurpas, Paul Brunner, Frank Mai, Michael Rudolph, Matthias Weyers, Markus |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 167 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |