|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 158 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical reliability challenges in scaling SiO2-based dielectric to its limit |
| Auteur: |
Wu, E.Y. Suñé, J. Lai, W. Vayshenker, A. Nowak, E. Harmon, D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 43 (2003) nr. 8 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 158 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |