|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 137 van 572 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison between BSIM4.X and HSPICE flicker noise models in NMOS and PMOS transistors in all operating regions |
| Auteur: |
Noulis, T. Siskos, S. Sarrabayrouse, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 8 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 137 van 572 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |