|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of inside spacer process on fully self-aligned 250GHz SiGe:C HBTs reliability performances: a-Si vs. nitride |
| Auteur: |
Diop, M. Revil, N. Marin, M. Monsieur, F. Chevalier, P. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 8-9 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |