|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of laser voltage probing and mapping results in oversized and minimum size devices of 120nm and 65nm technology |
| Auteur: |
Kindereit, Ulrike Boit, Christian Kerst, Uwe Kasapi, Steven Ispasoiu, Radu Ng, Roy Lo, William |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 8-9 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |