|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 102 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
Voltage and temperature effect on dielectric charging for RF-MEMS capacitive switches reliability investigation |
| Auteur: |
Lamhamdi, M. Pons, P. Zaghloul, U. Boudou, L. Coccetti, F. Guastavino, J. Segui, Y. Papaioannou, G. Plana, R. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 48 (2008) nr. 8-9 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 102 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |