|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 74 van 87 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of triggering inhomogeneities in gg-nMOS ESD protection devices via thermal mapping using backside laser interferometry |
| Auteur: |
Litzenberger, M. Esmark, K. Pogany, D. Fürböck, C. Gossner, H. Gornik, E. Fichtner, W. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 8-10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 74 van 87 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |