Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 89 van 425 gevonden artikelen
 
 
  Design, assembly and reliability of large die and fine-pitch Cu/low-k flip chip package
 
 
Titel: Design, assembly and reliability of large die and fine-pitch Cu/low-k flip chip package
Auteur: Ong, Yue Ying
Ho, Soon Wee
Vaidyanathan, Kripesh
Sekhar, Vasarla Nagendra
Jong, Ming Chinq
Yak Long, Samuel Lim
Wen Sheng, Vincent Lee
Wai, Leong Ching
Rao, Vempati Srinivasa
Ong, Jimmy
Ong, Xuefen
Zhang, Xiaowu
Seung, Yoon Uk
Lau, John H.
Lim, Yeow Kheng
Yeo, David
Chan, Kai Chong
Yanfeng, Zhang
Tan, Juan Boon
Sohn, Dong Kyun
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 50 (2010) nr. 7 pagina's 9 p.
Jaar: 2010
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 89 van 425 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland