|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 352 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
Small-signal gate-to-drain capacitance of MOSFET as a diagnostic tool for hot-carrier induced degradation |
| Auteur: |
Ghodsi, R. Yeow, Y.T. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 37 (1997) nr. 7 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 352 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |