|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 315 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
Refined NBTI characterization of arbitrarily stressed PMOS devices at ultra-low and unique temperatures |
| Auteur: |
Aichinger, Thomas Nelhiebel, Michael Grasser, Tibor |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 7 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 315 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |