|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 295 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
Oxide reliability: influence of interface roughness, structure layout, and depletion layer formation |
| Auteur: |
Lanchava, B. Baumgartner, P. Martin, A. Beyer, A. Mueller, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 295 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |