|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 203 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ crystallisation in ZrO2 thin films during high temperature X-ray diffraction |
| Auteur: |
Zhao, C. Roebben, G. Bender, H. Young, E. Haukka, S. Houssa, M. Naili, M. De Gendt, S. Heyns, M. Van Der Biest, O. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 41 (2001) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 203 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |