|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 176 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot hole-induced device degradation by drain junction reverse current |
| Auteur: |
Kim, K.S. Kim, H.J. Choi, P.H. Park, H.S. Joo, I.H. Song, J.E. Song, D.H. Choi, B.D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 53 (2013) nr. 7 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 176 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |