|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 168 van 425 gevonden artikelen
| Titel: |
Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage |
| Auteur: |
Cibáková, T Fischerová, M Gramatová, E Kuzmicz, W Pleskacz, W.A Raik, J Ubar, R |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 42 (2002) nr. 7 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 168 van 425 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |