|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 587 van 3078 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of high-density current stressed IGBTs and simulation with an adapted SPICE sub-circuit |
| Auteur: |
Maouad, A Hoffmann, A Khoury, A Charles, J.-P |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 40 (2000) nr. 6 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 587 van 3078 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |