|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 474 van 3078 gevonden artikelen
| Titel: |
Bayesian techniques to reduce the sample size in automotive electronics attribute testing |
| Auteur: |
Kleyner, Andre Bhagath, Shrikar Gasparini, Mauro Robinson, Jeffrey Bender, Mark |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 37 (1997) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 474 van 3078 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |