|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 85 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot carrier induced device degradation in RF-nMOSFET's |
| Auteur: |
Park, Jong Tae Lee, Byung Jin Kim, Dong Wook Yu, Chong Gun Yu, Hyun Kyu |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 38 (1998) nr. 6-8 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 85 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |