|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 127 gevonden artikelen
| Titel: |
A compact model for NBTI degradation and recovery under use-profile variations and its application to aging analysis of digital integrated circuits |
| Auteur: |
Kleeberger, Veit B. Barke, Martin Werner, Christoph Schmitt-Landsiedel, Doris Schlichtmann, Ulf |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 54 (2014) nr. 6-7 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 127 gevonden artikelen
| volgende >> |