Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 965 van 3051 gevonden artikelen
 
 
  Effect of trench edge on pMOSFET reliability
 
 
Titel: Effect of trench edge on pMOSFET reliability
Auteur: Lee, Yung-Huei
Linton, Tom
Wu, Ken
Mielke, Neal
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 41 (2001) nr. 5 pagina's 8 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 965 van 3051 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland