|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 777 van 3051 gevonden artikelen
| Titel: |
Cross-cell interference variability aware model of fully planar NAND Flash memory including line edge roughness |
| Auteur: |
Poliakov, Pavel Blomme, Pieter Corbalan, Miguel Miranda Houdt, Jan Van Dehaene, Wim |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 51 (2011) nr. 5 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 777 van 3051 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |