|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of crystalline Gd2O3 gate dielectric MOSFETs fabricated by damascene metal gate technology |
| Auteur: |
Endres, Ralf Stefanov, Yordan Schwalke, Udo |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |