|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation of surface state capture cross-sections for metal–oxide–semiconductor field-effect transistors using HfO2 gate dielectrics |
| Auteur: |
Chiu, Fu-Chien Shih, Wen-Chieh Lee, Joseph Ya-min Hwang, Huey-Liang |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |