|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 190 gevonden artikelen
| Titel: |
Distribution and generation of traps in SiO2/Al2O3 gate stacks |
| Auteur: |
Crupi, Isodiana Degraeve, Robin Govoreanu, Bogdan Brunco, David P. Roussel, Philippe Van Houdt, Jan |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 47 (2007) nr. 4-5 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 190 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |